Ετικέτες

Τετάρτη 18 Ιανουαρίου 2017

Test Expectancy and Memory for Important Information.

Author: Middlebrooks, Catherine D.; Murayama, Kou; Castel, Alan D.
DOI: 10.1037/xlm0000360
Publication Date: POST AUTHOR CORRECTIONS, 16 January 2017


http://ift.tt/2iTB4Ld

Δεν υπάρχουν σχόλια:

Δημοσίευση σχολίου

Αναζήτηση αυτού του ιστολογίου