Ετικέτες

Παρασκευή 3 Νοεμβρίου 2017

When Shorter Delays Lead to Worse Memories: Task Disruption Makes Visual Working Memory Temporarily Vulnerable to Test Interference.

Author: Wang, Benchi; Theeuwes, Jan; Olivers, Christian N. L.
DOI: 10.1037/xlm0000468
Publication Date: POST AUTHOR CORRECTIONS, 2 November 2017


http://ift.tt/2h5t8ER

Δεν υπάρχουν σχόλια:

Δημοσίευση σχολίου

Αναζήτηση αυτού του ιστολογίου